三次元半導体研究センター 社会システム実証センター 公益財団法人福岡県産業 科学技術振興財団

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Technology Database
技術データベース

MEMS向け特殊加工 【ヒサシ形状】

概要

開発背景

MEMS向けに、特殊で微細なパターン形状の評価を行った。

評価内容

Cu/Si/SiO2の積層膜において、下図のようなヒサシ形状をSF6、CHF3、O2ガスを用いてドライエッチング装置で形成した。


目標とする形状図

事前評価

  1. 垂直方向にSiのエッチングが進行する。
  2. SiO2膜がエッチングされないことから、Cu直下のSiに向かって横方向のエッチングが進行する。

結果・結論

Siへの横方向のエッチングの時間を最適化することで、目標の形状を得ることができた。

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