三次元半導体研究センター アーカイブ

• 2025-07-15

  有機溶剤現像装置
  （Organic Solvent Developer）

• 2025-07-15

  超音波探傷装置
  （Scanning Acoustic Tomography）

• 2025-07-15

  酸化膜エッチング装置

• 2024-12-24

  デジタルマイクロスコープ

• 2024-12-24

  基板用Ni/Auめっき

• 2024-12-24

  二流体洗浄装置

• 2024-12-24

  チタン/Cu　スパッタ

• 2024-12-24

  マニュアルめっき装置（Ni/Auめっき）

• 2024-12-24

  電解Niめっき

• 2024-12-24

  マニュアルめっき装置（SnAgめっき）

• 2024-12-24

  ウェハ用電解銅めっき
  （ウェハ銅ポストめっき）

• 2024-12-24

  ピール試験機

• 2024-12-24

  マイグレーション評価装置

• 2024-12-24

  反応性イオンエッチング装置

• 2024-12-24

  FIB

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  ボンドテスタ

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  ワイヤーボンダー

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  フリップチップボンダー

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  レーザー顕微鏡

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  ウエハープラズマクリーナー

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  プリント基板真空プレス装置

• 2024-12-13

  ダブルパルステスター

• 2024-12-13

  120GHzネットワークアナライザ

• 2024-12-13

  基板パラメータ測定システム

• 2024-12-13

  ＴＤＲオシロスコープ

• 2024-12-13

  高周波パラメータ測定システム

• 2024-12-13

  プロービングシステム（120GHz）

• 2024-12-13

  プロービングシステム

• 2024-12-13

  自動研磨機
  (64 研磨濾過器含む）

• 2024-12-13

  自動切断機