Technology Database
技術データベース
機器外観
概要
| No. | 32 |
| 機器名 | X-Y ベアボードハイテスタ X-Y BARE BOARD HiTESTER （内蔵部品検査装置） |
| メーカー | 日置電機株式会社 |
| 型番 | 1281 |
| 装置概要 | 水平型両面フライングプローブタイプの部品内蔵基板検査装置です。 |
| 料金/時間 | 8,700円 |
| 主な仕様 | アーム数：４アーム（上面：２、下面：２） 固定可能基板サイズ：最大４００（Ｗ）×３３０（Ｄ）ｍｍ 、 t=０．１～２．５ｍｍ 測定項目 抵抗：40.00μ ～ 100.0M （Ω） コンデンサ：10.00f ～ 40.00m （F） コイル：1.000μ ～ 100.0m （H） 高電圧抵抗：200.0 ～ 25.00G （Ω） 絶縁測定：200.0 ～ 100.0G （Ω） 直流電圧：40.00m ～ 25.00 （V） ダイオードＶｆ測定：0.000 ～ 25.00 （V） |
| 特徴 | ★部品内蔵基板の検査を強力にサポート ・低電圧AC計測（AC0.1V印加）によるLCR定数検査ができます。 ・ガーディング機能により、複合受動素子の単独測定が可能です。 ・LSI接続信頼性検査専用モードを搭載しています。 ★潜在的な欠陥を高分解能計測により検出できます。 ・４端子抵抗測定により微少な抵抗変化の検出が可能です。 （測定範囲：40μΩ～、最小分解能：200nΩ） ・高電流印加導通検査（最大200mA）が可能です。 ・１００GΩ（２５０V印加）までをカバーする高速絶縁検査を実現します。 |
設置場所
予約状況
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