Technology Database
技術データベース
機器外観
概要
| No. | 58 |
| 機器名 | 高周波パラメータ測定システム |
| メーカー | アジレント・テクノロジー株式会社 |
| 型番 | Ｎ5245Ａ |
| 装置概要 | 半導体素子の高周波特性を評価するために使用します。能動素子内蔵基板に高周波（交流）、高電圧（直流）で電気的測定を行い、被測定物の各種電気特性を正確に把握でき、研究・開発に貢献可能です。 |
| 料金/時間 | 11,900円 |
| 主な仕様 | ネットワーク・アナライザ（E8364C） 測定項目：Ｓパラメータ、利得圧縮、相互変調歪など 測定周波数：10MHz～50GHz 測定ポート数：４ポート 最大出力電力：+16dBm パワーデバイス・アナライザ／カーブトレーサ（B1500A） 測定項目：ＤＣ測定（ＩＶカーブ）、容量測定 動作範囲：-200V～+200V、-1A～+1A 測定分解能：0.5uV、1fA インピーダンス・アナライザ（4294A） 測定項目：インピーダンス、等価回路導出 測定周波数：40Hz～11MHz |
| 特徴 | ・50GHzまでの高周波特性をＳパラメータとして測定でき、能動素子内蔵基板の高周波特性を正確に把握できるため、ミリ波分野の無線通信モジュールの研究・開発に有効です。 ・高電圧直流を印加状態での極微小直流電流を測定でき、被測定物のごく僅かな変化を正確に把握できるため、信頼性評価の研究・分析に有効です。 ・直流および高周波では観測困難な110MHzまでの低周波のインピーダンスを測定することにより、能動素子内蔵基板の電気的特性を正確に把握できるため、信頼性評価の研究・分析に有効です。 ・機器類を統合した測定システムにより、より効率的な測定が可能です。 |
設置場所
予約状況
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