三次元半導体研究センター 社会システム実証センター 公益財団法人福岡県産業 科学技術振興財団

menu

Technology Database
技術データベース

61 衝撃試験装置

三次元半導体研究センター
分析
信頼性試験室

機器外観

概要

No. 61
機器名 衝撃試験装置 
メーカー 神栄テクノロジー(株)
型番 HDST-150J
装置概要 半導体デバイスやパッケージが物理的な衝撃や振動にどのように耐えられるかを確認するために使用されます。 衝撃台上に正弦半波状の衝撃加速度を発生させ、衝撃台上に固定した製品および部品に最大1500G 0.5msの加速度を与えます。 当該機種は、実装基板の鉛フリーはんだの接合評価、特に「瞬断」の検出が主目的で開発されましたが、JEDEC・JEITAの耐衝撃試験規格に準拠しており、種々の電子デバイスの評価にも応用されています。
料金/時間 8,300円
主な仕様
特徴 詳細スペック

設置場所

予約状況

下記で装置の予約状況を確認いただけます。(準備中)

関連する要素技術 本機器に関する要素技術を紹介します

該当するデータが見つかりませんでした。

関連する事例 本機器に関する事例を紹介します

該当するデータが見つかりませんでした。