Technology Database
技術データベース
機器外観
概要
| No. | L5 |
| 機器名 | FIB |
| メーカー | JEOL(日本電子) |
| 型番 | JIB-4500 |
| 装置概要 | 集束イオンビーム(Focused Ion Beam :FIB)装置は、集束したイオンビームを試料に照射し、加工や観察を行う装置です。イオンは試料との最初の衝突でほとんどの運動エネルギーを消費するため、試料最表面を観察したり、ビーム走査の位置と時間を制御することで、3次元的な加工を施すことも可能です。 |
| 料金/時間 | 13,400円 |
| 主な仕様 | |
| 特徴 |
設置場所
予約状況
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関連する要素技術 本機器に関する要素技術を紹介します
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